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高低温真空探针台

  • 参数规格
  • 漏电精度测试
  • IV测试曲线
产品说明
  • 控温范围可达-142℃-600℃(如300℃以上需另配水冷系统);
  • 控温精度可达±1℃,显示精度1℃,温度均匀性±3℃;
  • 极限真空度优于2Pa@机械泵,极限真空度优于3*10^(-3)Pa@分子泵组;
  • 探针位移重复定位精度2μm,分辨率3μm,单轴直线度±2μm;
  • 三同轴探针夹具,漏电精度100fA,陶瓷结构;

     谱量光电LVTS系列高低温真空探针台主要用于为被测芯片提供一个低温或者高温的变温测量环境,以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件因接触空气所带来的测试结果误差,是材料学,芯片,半导体器件等方向实验分析的理解之选。

通用参数
样品台材质
紫铜
控温范围
-142℃~600℃
真空腔体材质
304不锈钢
探针座行程
XYZ40mm
探针座调节精度
3μm
馈通线缆
三同轴BNC接口,漏电精度100fA
真空度
<2Pa@机械泵,<3*10^(-3)Pa@分子泵
显微成像
~200倍,2000W高清彩色相机
隔振平台
主动式气浮隔振平台
探针座数量
标配4个

Keithley26系列源表实测

LVTS系列高低温真空探针台
  • 控温范围可达-142℃-600℃(如300℃以上需另配水冷系统)
  • 控温精度可达±1℃,显示精度1℃,温度均匀性±3℃
  • 极限真空度优于2Pa@机械泵,极限真空度优于3*10^(-3)Pa@分子泵组
  • 样品台多个尺寸可选,常规有4/6/8/12英寸

谱量光电LVTS系列高低温真空探针台主要用于为被测芯片提供一个低温或者高温的变温测量环境,以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件因接触空气所带来的测试结果误差,是材料学,芯片,半导体器件等方向实验分析的理解之选。

产品型号 样品台尺寸 控温范围 探针座调节精度 探针座数量 对比 单价 发货日期 购物车
LVTS-04 4英寸 -142℃~600℃ 3μm 标配4个
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LVTS-06 6英寸 -142℃~600℃ 3μm 标配4个
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LVTS-08 8英寸 -142℃~600℃ 3μm 标配4个
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LVTS-12 12英寸 -142℃~600℃ 3μm 标配4个
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