探针台
Probe Stations
谱量光电LVTS系列高低温真空探针台主要用于为被测芯片提供一个低温或者高温的变温测量环境,以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件因接触空气所带来的测试结果误差,是材料学,芯片,半导体器件等方向实验分析的理解之选。
样品台材质
紫铜 |
控温范围
-142℃~600℃ |
真空腔体材质
304不锈钢 |
探针座行程
XYZ40mm |
探针座调节精度
3μm |
馈通线缆
三同轴BNC接口,漏电精度100fA |
真空度
<2Pa@机械泵,<3*10^(-3)Pa@分子泵 |
显微成像
~200倍,2000W高清彩色相机 |
隔振平台
主动式气浮隔振平台 |
探针座数量
标配4个 |
(Keithley26系列源表实测)
谱量光电LVTS系列高低温真空探针台主要用于为被测芯片提供一个低温或者高温的变温测量环境,以便测量分析温度变化时芯片性能参数的变化。腔体内被测芯片在真空环境中有效避免易受氧化半导体器件因接触空气所带来的测试结果误差,是材料学,芯片,半导体器件等方向实验分析的理解之选。