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标准型基础测试探针台

  • 参数规格
  • 细节展示
  • 漏电精度测试
  • IV测试曲线
产品说明
  • 结构紧凑,功能实用,高性价比;
  • 满足1um以上电极/PAD使用;
  • 漏电精度:10pA(屏蔽箱内)
  • 探针台整体位移精度高达10μm,样品台四维精密调节;
  • 精密燕尾传动机构,线性移动,无回程差设计;
  • 应用于:半导体、MEMS(微机电系统)、超导、铁电子学、材料科学以及物理和光学等领域;

     谱量光电 探针台又称探针测试台,主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试探针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对材料、芯片等进行科研实验分析,抽查测试等用途。

通用参数
样品台行程
XY轴50mm,Z轴60mm,R轴360旋转可锁紧
综合最大放大倍数
~270倍
探针座调节精度
3μm
漏电精度
10pA屏蔽箱内)
线缆规格
同轴接口(BNC、鳄鱼夹、香蕉插头)/三同轴接口(可选配)

(Keithley26系列源表实测)

标准型基础测试探针台
  • 样品台四维调节:XY50mm,Z60mm,R360旋转可锁紧;
  • 线缆规格:同轴接口(BNC、鳄鱼夹、香蕉插头);
  • 漏电精度:10pA(屏蔽箱内);
  • 探针座调节精度:10μm;

PLCTS 标准型基础测试探针台结构小巧、功能实用,超高性价比。在满足基本测试功能基础上,去除了非必要得部件满足常规半导体器件的研发、制造和测试需要,是光电芯片/器件测试的理想之选。如需更换探针座款式(3μm、1μm、0.7μm等)及线缆规格(三同轴线缆)可联系客服。

左侧图展示
产品型号 样品台尺寸 探针座调节精度 漏电精度 综合最大放大倍数 对比 单价 发货日期 购物车
TLRB-04 4英寸 10μm 10pA(屏蔽箱内) ~270倍
29860 2-4周
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TLRB-06 6英寸 10μm 10pA(屏蔽箱内) ~270倍
30600 2-4周
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TLRB-08 8英寸 10μm 10pA(屏蔽箱内) ~270倍
31160 2-4周
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TLRB-12 12英寸 10μm 10pA(屏蔽箱内) ~270倍
31860 2-4周
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