探针台
Probe Stations
谱量光电 探针台又称探针测试台,主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台,探针台可吸附多种规格芯片,并提供多个可调测试探针以及探针座,配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对材料、芯片等进行科研实验分析,抽查测试等用途。
样品台行程
XY轴50mm,Z轴60mm,R轴360旋转可锁紧 |
综合最大放大倍数
~270倍 |
探针座调节精度
3μm |
漏电精度
10pA屏蔽箱内) |
线缆规格
同轴接口(BNC、鳄鱼夹、香蕉插头)/三同轴接口(可选配) |
(Keithley26系列源表实测)
PLCTS 标准型基础测试探针台结构小巧、功能实用,超高性价比。在满足基本测试功能基础上,去除了非必要得部件满足常规半导体器件的研发、制造和测试需要,是光电芯片/器件测试的理想之选。如需更换探针座款式(3μm、1μm、0.7μm等)及线缆规格(三同轴线缆)可联系客服。