材料表面性能检测；

XY方向扫描范围90μm x 90μm，垂直方向扫描范围10μm；

功能特点：AFM、PFM、MFM、EFM、HV-PFM、CAFM、LFM、QNM、KPFM；

可以测试各种材料表面的形貌、粗糙度、弹性、硬度、化学反应等；

可测样品种类：粉末、块状、薄膜样品、液体；

可测功能： 材料表面分析和深度剖析、物相鉴定和定量、粒度分析、薄膜厚度及粗糙度分析；

可以用于研究材料的结构和性质，如晶格常数、晶体结构、晶体缺陷等；材料表面分析和深度剖析、物相鉴定和定量、粒度分析、薄膜厚度及粗糙度分析

广泛应用于各种领域，包括材料科学、药物研究、催化剂研究、能源产业等；

观察纳米材料的形貌（表面凹凸、纹理、裂纹、孔隙、颗粒形态）；

搭配EDS，可检测样品微区元素种类、含量、元素分布，做定性 / 半定量成分分析；

功能特点：低电压高分子成像、双叉能谱探头、无窗EDS可测至Li元素、超快EBSD（可做TKD）；

适用于可对金属、陶瓷、半导体、生物样品进行纳米级高分辨观测；