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光谱响应度测试探针台

  • 参数规格
  • 细节展示
  • 漏电精度
  • IV测试曲线
产品说明
  • 半圆形探针架,可放置6个DC探针座;
  • 漏电精度100fA/10pA;
  • 整体位移精度3μm;
  • 1微米以上电极/PAD使用;
  • 样品台XYZR四维调节;
  • 模块化设计,可以搭配不同构件完成多种不同测试需求;

     PLCTS光谱响应测试探针台是一种专门用于测试材料光谱响应的设备。这种探针台结合了光谱扫描、光电流扫描以及光响应速率测试等功能,可以对材料进行全面的光学性能测试。 PLCTS光谱响应测试探针台是一种专门用于测试材料光谱响应的设备。这种探针台结合了光谱扫描、光电流扫描以及光响应速率测试等功能,可以对材料进行全面的光学性能测试。在光谱响应测试中,探针台通过精确控制光源和探测器,测量材料在不同波长光照射下的响应情况。通过测量光谱响应度、量子效率等参数,可以了解材料对不同波长光的吸收、反射和透射特性,进而评估其光学性能和应用潜力。

示意图
通用参数
样品台行程
XY110mm,Z10mm,360°粗调,±5°精调
样品台位移精度
3μm
探针座行程
XYZ13mm
探针座调节精度
3μm
固定方式
环形真空吸附
探针座数量
标配2个

TLRHC系列二维平移光谱响应度测试探针台
  • 探针台整体位移精度高达3μm,样品台四维精密调节;
  • 标配3个3μm位移精度探针座;
  • 漏电精度可达10pA/100fA(屏蔽箱内);
  • 探针台整体二维调节,XY行程均为100mm;

PLCTS光谱响应测试探针台具有高精度、高稳定性和丰富的光源选择等特点。它采用多层光学光路设计,可扩展多路光源,满足不同探测器测试功能的要求。同时,探针台还具备长时间连续测试的能力,确保测试结果的准确性和可靠性。

产品展示
产品型号 样品台尺寸 样品台行程 对比 单价 发货日期 购物车
TLRHC-04 4英寸 XY110mm,Z10mm,360°粗调,±5°精调
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TLRHC-06 6英寸 XY110mm,Z10mm,360°粗调,±5°精调
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TLRHC-08 8英寸 XY110mm,Z10mm,360°粗调,±5°精调
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TLRHC-12 12英寸 XY110mm,Z10mm,360°粗调,±5°精调
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