探针台
Probe Stations
谱量光电 万向型5μm探针座主要是针对特殊样品需要调节特殊角度而研发的一款支持360°旋转及360°倾斜调节探针座。整体采用航空铝合金,表面喷砂氧化,具有很好的耐腐蚀能力。位移采用高分辨率微分头驱动,交叉滚珠导轨保证线性位移的稳定性。主要用途探针与待测器件(如芯片)接触,传输测试信号并收集响应信号,以评估待测器件的性能和质量,为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件。根据客户应用电极大小和需要调节角度不同等,还提供通用型、L型探针座供客户选择。广泛应用于半导体晶圆测试、芯片器件研发与制造、光电元件测试等,如有定制化标准(行程、精度、夹具等)可联系客户咨询。
探针位移行程
XYZ13mm+360°旋转+360°精密定向倾斜调节 |
调节精度
5μm |
电流测量范围
100fA/10pA~10A |
线缆规格
同轴线缆(BNC/鳄鱼夹/香蕉插头)/三同轴线缆 |
漏电精度
10pA/100fA |
线缆长度
1.5m |
固定方式
可调磁力吸附 |
(Keithley26系列源表实测)
PLCTS 万向型5μm探针座适整体采用铝合金材质,表面喷砂氧化。位移采用高分辨率微分头驱动,交叉滚珠导轨;支持360°旋转及360°倾斜调节,适用于50-100μm特殊样品电极测试使用。