探针台
Probe Stations
探针作为探针台的核心部件之一,主要用途是接触连接待测件电极,为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件,从不同应用场景可分为钨钢探针,钨钢镀金探针,镀金软针,钨钢角度探针等,被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。在探测过程中,半导体探针被当做一个电流源,将电流引入待测材料,然后从待测材料的另一侧将电流采集回来。通过这种方式,可以探测到待测材料中的电学现象,进而分析材料的电学特性参数。
钨钢探针是一种金属探头,由钨钢这种高硬度、抗磨损性能好的材料制成。钨钢探针因其特殊的材质特性,无论是工业制造中的材料检测,还是科学研究中的精密测量,钨钢探针都能发挥重要作用。
钨钢镀金探针提高了探针的导电性,保证了测试结果的准确性。同时,镀金还能防止探针表面氧化,进一步延长了探针的使用寿命。此外,钨钢镀金探针表面光滑,不会对被测物件造成刮伤,确保了测试的可靠性。
镀金软针是一种结合了金属镀金与柔软材质特性的探针。镀金赋予了其良好的导电性和电化学稳定性,而柔软的材质则使其具有更好的柔韧性和适应性,减少对集成电路的损坏能够在复杂的测试环境中灵活应用。
钨钢角度探针是一种具有特定角度设计的探针,使其能够在特定的测试环境中发挥出色的性能。角度设计则使得探针能够更准确地接触和测量待测物件,在特定的测试环境中发挥出色的性能提高了测试的精度和可靠性。
铍铜探针是一种广泛应用于电子测试和测量设备中的探针材料。由于其优良的机械和电气性能,铍铜探针在许多精密测试中扮演着重要角色。